本章的主线是“如何到达被测对象并观察响应”：板级用边界扫描，核级用 1500 测试壳与 TAM，模拟/混合信号则必须改用连续波形和参数判据。
三个问题对应三节，不把边界扫描、1500 和模拟测试仅当术语表。后一节沿用前一节的“控制—观察—代价”框架。
先说明连续关系：板级协议解决外部可达性，核级标准把同样的思想扩展到片内，模拟测试则改变信号模型和判据。
本节只围绕一个闭环：如何把测试数据送入边界单元、更新到引脚，再从另一芯片捕获并移出。
来源：[1] 第 10 章 第 558–562 页；标准状态见 [2]。1149.1-2013 于 2024-03-21 转为 Inactive-Reserved，P1149.1 为 Active PAR。强调这是针对板级互连访问的架构，不等于芯片内部所有逻辑自动可测。
来源：[1] 第 10 章 第 562–565 页。两条并行路径分别是 IR 路径和当前指令选中的 DR 路径，不能混为一个寄存器。
来源：[1] 第 10 章 第 564–565 页。TCK 独立使边界扫描可在系统时钟频点不一致时仍完成板级数据搬运。
来源：[1] 第 10 章 第 567–569 页。答案：只有更新后的指令才能稳定选中正确的数据寄存器并产生一致控制信号。
来源：[1] 第 10 章 第 561、569–574 页。板级测试不是只数 BSR 位宽，还要计算控制器状态迁移和同步延迟。
来源：[1] 第 10 章 第 565–566 页。capture 翻转 R1，update 才影响 R2；由此避免移位过程中直接扰动引脚。
来源：[1] 第 10 章 第 569–574 页。BYPASS/SAMPLE/PRELOAD/EXTEST 为本书所载四个必需指令；不要把它们与可选指令混淆。
来源：[1] 第 10 章 第 574–575 页。BSDL 是机器可读的边界扫描属性描述，不能替代板级网络和链路配置信息。
来源：[1] 第 10 章 第 570–573 页。这是教学推导而非实测结果。真实判定需处理同步延迟、双向引脚、外部负载和测试图形序列。
从板级数字网络推进到交流耦合差分网络，再把相同边界隔离思想映射到 SOC 内部的核。
来源：[1] 第 10 章 第 579–580 页；标准状态见 [3]。1149.6-2015 于 2026-03-26 转为 Inactive-Reserved；P1149.6 为 Active PAR。不把当时“多 Gbps”表述扩展成对今天所有接口的结论。
来源：[1] 第 10 章 第 580–584 页。否则连续两个同方向边沿无法区分是发生两次还是只发生一次。
来源：[1] 第 10 章 第 585–587 页。核测试标准不负责定义核内部测试算法，而负责隔离、访问和模式控制的共同边界。
来源：[1] 第 10 章 第 587–592 页；标准状态见 [4]。1500-2022 于 2022-10-12 发布并处于 Active Standard 状态。WSP 必需、WPP 可选；1500 标准的是核的测试接口和隔离协议，不规定核内部 DFT。
来源：[1] 第 10 章 第 592–594 页。模式选择必须保证未测核不被其他核的测试图形驱动到危险状态。
公式是根据测试图形数量、输入/输出扫描长度和 TAM 位宽构造的理论下界，不含捕获、切换和调度开销，不是工具实测。
来源：[1] 第 10 章 第 601–603 页。CTL 是测试信息交换语言，不是测试生成算法，也不保证不同供应方的核内部实现相同。
来源：[1] 第 10 章 第 606–611 页。层次化控制器负责配置和搬运，测试质量仍取决于测试图形和响应分析。
前两节的数字边界值被连续信号取代。测试目标从“0/1 是否翻转”变为“在给定频率、负载和工作范围内，参数是否留在规格带内”。
来源：[1] 第 11 章 第 619–623 页。连续信号意味着无限理想分辨率，工程上用失真、噪声和容差把“不可接受偏差”划出来。
来源：[1] 第 11 章 第 623–626 页。硬/软并非互斥分类，必须记录故障位置、阻值和可观察规格。
来源：[1] 第 11 章 第 631–635 页。开环增益测量常利用高灵敏度分压；公式是理论关系，测试装置寄生会引入误差。
来源：[1] 第 11 章 第 635–640 页。举例构造，不引用实测数据。正弦、阶跃、斜坡、三角、chirp 与多音信号分别施加不同频率激励。
来源：[1] 第 11 章 第 642–644、651–652 页。1 LSB 使用转换范围除以 2^n−1；理论 SNR 推导采用满幅正弦与量化噪声模型。这是公式例题，不是芯片实测。
来源：[1] 第 11 章 第 647–654 页。[1] 示例中 DNL=0.8 LSB、INL=2.0 LSB、14 位 ADC 的 SNDR=70 dB 得 ENOB≈11.34 bit；这些是书内示例。
来源：[1] 第 11 章 第 652–658 页。不对“39 项/17 类”做现行标准承诺；它是对[1] 所介绍 IEEE 1057-1994 的概述。
来源：[1] 第 11 章 第 658–666 页。模拟测试总线受寄生电容和信号完整性限制，内部测试是可选能力，不应描述成无代价的全面模拟观察。
口头思考题：如果一个 1500 核已能通过 TAM 访问，为什么仍需核供应方提供 CTL 与测试图形？因为访问机制只定义边界和协议，不包含核内部功能模型、故障模型与期望响应。